- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 5/02 - Analyse des matériaux par pesage, p.ex. pesage des fines particules séparées d'un gaz ou d'un liquide en absorbant ou adsorbant les constituants d'un matériau et en déterminant la variation de poids de l'adsorbant, p.ex. en déterminant la teneur en eau
Détention brevets de la classe G01N 5/02
Brevets de cette classe: 502
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Taiyo Yuden Co., Ltd. | 1809 |
26 |
| NEC Corporation | 32703 |
25 |
| National Institute for Materials Science | 1108 |
24 |
| Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. | 265 |
24 |
| Kyocera Corporation | 12735 |
18 |
| Aroma Bit, Inc. | 24 |
12 |
| FUJIFILM Corporation | 27102 |
10 |
| ULVAC, Inc. | 1448 |
10 |
| I-pex Inc. | 127 |
10 |
| Murata Manufacturing Co., Ltd. | 22355 |
9 |
| Olympus Corporation | 13667 |
9 |
| Fujitsu Limited | 19265 |
8 |
| National Institute of Advanced Industrial Science and Technology | 3677 |
8 |
| Mettler-Toledo GmbH | 462 |
5 |
| Apple Inc. | 50209 |
4 |
| Koninklijke Philips N.V. | 22975 |
4 |
| California Institute of Technology | 3884 |
4 |
| Commissariat à l'énergie atomique et aux energies alternatives | 10525 |
4 |
| All Clear Technologies, LLC | 5 |
4 |
| Shinshu University | 445 |
4 |
| Autres propriétaires | 280 |